Metromeet volvió a congregar en Bilbao los días 28 y 29 de marzo a profesionales de la metrología y la medición procedentes de todo el mundo. Organizada por la Asociación Innovalia y patrocinada por Innovalia Metrology y Renishaw contó con la participación de más de 120 personas que atendieron a los dos tutoriales, tres keynotes y 16 presentaciones técnicas.
Metromeet ha vuelto a ser un éxito. Finalizada su décima edición la organización manifestaba estar muy satisfecha con los resultados: “hemos visto unas presentaciones fantásticas y queremos agradecer a los ponentes su esfuerzo. Estamos muy contentos también con la interacción por parte de los asistentes, este año hemos tenido un alto nivel de participación de la audiencia”.
Renishaw, sponsor Premium
La organización contó en esta décima edición con la colaboración de Renishaw como patrocinador Premium de la Conferencia. La firma de metrología contó con un stand de 9 metros cuadros donde presentó sus recientes desarrollos.
Importantes presentaciones del Grupo Innovalia
Como organizadora de la Conferencia, Innovalia protagonizó algunas de las charlas que más expectación despertaron. Así, Mario Arias de Unimetrik centró su presentación sobre Tolerancias dimensionales y geométricas tratando temas como: las ventajas del GPS-GD&T sobre las tolerancias más-menos; las reglas fundamentales; el marco de referencia de los datos; nuevos símbolos en Y14.5-2009; Plano; Orientación; Posición; Perfil; Partes flexibles, Conos; Rasgos radiales; Aplicaciones de las nuevas tecnologías de control GPS-GD&T.
Por su parte, Ainhoa Etxebarri de Innovalia Metrology realizó la presentación “Cómo medir sin contacto. Introducción a la óptica y al escaneo en 3D”.
Para poder ver el contenido completo tienes que estar suscrito. El contenido completo para suscriptores incluye informes y artículos en profundidad
