Metromeet finalizó con gran éxito su 7ª edición, celebrada el 31 de marzo y el 1 de abril, marcada por la gran participación y la alta calidad de las presentaciones. Durante los dos días de esta conferencia, la única en Europa dedicada a la Metrología Industrial Dimensional, más de 100 profesionales se dieron cita en el Palacio Euskalduna de Bilbao, para presenciar los dos tutoriales, tres keynotes y 20 presentaciones del programa.
Metromeet abrió sus puertas con dos tutoriales simultáneos de dos horas de duración; el primero de la mano de Antonio Ventura-Traveset, director general de Datapixel, titulado “Integrando la Metrología en la Empresa Digital: cómo mejorar las formas de compartir información y cooperar”; y el segundo, a cargo de Wolfgang Osten, profesor de la Universidad de Stuttgart, que planteó los diferentes enfoques para superar los límites entre la micrometrología y la nanometrología óptica.
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