Renishaw Ibérica, S.A.U.
Pabellón 3· Stand B42
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Renishaw presentará en BIEMH la versión de software para su sistema láser de alineación XK10, que permite realizar mediciones punto a punto de paralelismo. Esta nueva función permite realizar ajustes de precisión de paralelismo de máquina a un nivel imposible de conseguir con las técnicas de medición tradicionales.
El sistema láser de alineación XK10 es una herramienta de medición rápida y precisa de rectitud, cuadratura, paralelismo rotatorio, paralelismo en raíl, planitud y nivel, así como para la evaluación de la dirección del husillo y la coaxialidad de las máquinas rotatorias. El sistema es, además, una excelente herramienta de diagnóstico del origen de los errores tras una restauración o durante el mantenimiento periódico.
Hasta ahora, el método tradicional de medición de paralelismo se realizaba mediante una placa puente y un raíl maestro, en combinación con un reloj comparador y un nivel. Este procedimiento es muy lento y puede producir errores, ya que las mediciones se registran manualmente. El sistema XK10 utiliza la medición láser para capturar dos puntos en cada raíl, por lo que es posible calcular el ángulo entre los dos raíles y almacenarlo digitalmente.
Andy Deacon, director de productos de calibración de Renishaw, explica: “En esta nueva versión de software, el sistema XK10 puede obtener mediciones en varios puntos a lo largo del raíl. La ventaja de este mayor número de puntos es que se puede medir la rectitud de cada raíl al mismo tiempo. A continuación, se puede determinar el paralelismo entre raíles observando la diferencia de rectitud en cada punto, que muestra una perspectiva más precisa que una medición general de ángulos entre los raíles”.
Y continúa: “El XK10 se suministra con soluciones de fijación que reducen el tiempo de preparación y pueden utilizarse con la óptica de paralelismo opcional diseñada específicamente para esta aplicación. Las mediciones en aplicaciones sin raíles se han mejorado de manera significativa mediante el montaje de referencia magnético incluido, que permite deslizar fácilmente el detector sobre el borde de una estructura”.
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