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Metromeet 2017 destaca el papel de la metrología en la Industria 4.0

08/05/2017

Del 22 al 24 de marzo, Metromeet acogió en Bilbao tres días de ponencias y constituyó un foro de debate que permitió a importantes representantes de la industria poner en común desarrollos e ideas sobre QiF. Gracias a los ponentes -destacados ejecutivos de empresas con gran proyección internacional como Metrosage, Capvidia, PwC, Innovalia Metrology, Novo Nordisk A/S, Fraunhofer IPT, Renishaw, Tekniker y Autodesk, entre muchas otras-, Metromeet se convirtió una vez más en una conferencia de carácter industrial muy aplaudida, reuniendo también a representantes de diferentes universidades internacionales y otros centros tecnológicos como el IAC, Fraunhofer IPT, IK4-Tekniker y el PTB Alemán. Patrocinada por Innovalia Metrology, Renishaw, Faro y Zeiss, esta 13ª edición de Metromeet contó con contenido innovador de gran interés, en el que se incluyeron las aplicaciones y los progresos de las últimas tecnologías, y que constituyó un foro de debate sobre un sector que evoluciona a una velocidad exponencial.

Metromeet 2017, con contenido innovador de gran interés, permitió descubrir y debatir sobre la importancia de la metrología en el camino hacia la Industria 4.0. Con más de 20 ponentes y su gran proyección internacional, Metromeet convierte todos los años a Bilbao en la capital de la Industria 4.0, poniendo a disposición de los asistentes infinitas posibilidades comerciales y de networking, además de increíbles soluciones tecnológicas que ayudarán a las empresas a alcanzar una fabricación de cero defectos. A través de Metromeet, Innovalia continúa demostrando su apuesta por el desarrollo tecnológico, a la vez que su reconocimiento europeo como prescriptor de soluciones avanzadas en el campo del control de calidad y la mejora de los procesos de fabricación.

QiF y el futuro de la metrología digital
Metromeet comenzó su 13ª edición el 22 de marzo a las 9:00 h, dando la bienvenida a Daniel Campbell, procedente de Texas (EEUU), uno de los ponentes más esperados, que brindó a la audiencia la oportunidad de descubrir los retos, aplicaciones e influencia del estándar QiF (Quality Information Framework) en el futuro de Industria 4.0.
El tutorial de Daniel Campbell, de Capvidia, bajo el título “QiF and the Future of Digital Metrology”, marcó un punto de referencia en Metromeet 2017, asentando bases de diálogo constante con los asistentes y participación continua. Los asistentes tuvieron la oportunidad de conocer personalmente a una de las figuras más relevantes de la metrología americana, resolver dudas y desvelar de tú a tú los principales secretos del QiF. Los asistentes y ponentes marcaron la temática de Daniel Campbell como objeto de interés y asentaron bases para continuar el debate y el desarrollo, no solo en el próximo Metromeet, sino también en mesas redondas que la organización preparará a lo largo del año. Daniel Campbell recibió una txapela a la finalización del segundo día de la conferencia como reconocimiento por haber ofrecido la ponencia más interesante durante los días de la Conferencia.
Capvidia adquirió recientemente Pundit CMM, líder en simulación de incertidumbre de medición MMC, lo que amplía el crecimiento de la primera en el mercado de la tecnología digital. Por su parte, los clientes de Pundit CMM se benefician de la presencia mundial en ventas y soporte de Capvidia y su gran capacidad en soluciones para MBD (Model Based Definition) y Empresa Digital. Esta asociación es importante por tres razones, fundamentalmente:

  • Aprovechar la tecnología MBD emergente (por ejemplo, PMI) para hacer más fácil la simulación de incertidumbre.
  • Utilizando QIF, se incorporan los valores de incertidumbre de medición en los datos de resultados, llevando la incertidumbre de medición a MBD.
  • Controlar el proceso MMC con confianza.

Daniel Campbell explicó que es el estándar QiF:

  • Ontología basada en características de metadatos de calidad de fabricación: Estructuras semánticas de datos legibles por software.
  • Tecnología XML - Implementación sencilla y validación de código incorporada: XML proporciona beneficios modernos, como sencillez, validación incorporada, legibilidad del software, datos distribuidos, etc.
  • Datos vinculados de forma semántica al Modelo para la trazabilidad completa de datos a CAD: Puesto que QIF está construido en estructuras MBD, se pueden mantener vínculos a Authority CAD para que todos los datos de medición sean parte integral de MBD.

El estándar QiF tiene que ver con la utilización de datos (no software) para resolver problemas de negocio y es clave para la transformación digital. Sin contexto, los datos no se pueden transformar en conocimiento; QIF proporciona este contexto.

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