La 21ª edición de Metromeet, el foro internacional de metrología industrial, reunió durante dos días en el Palacio Euskalduna de Bilbao a representantes de la industria y la investigación para debatir sobre los retos y oportunidades de la metrología en la era digital. Organizado por Asociación Innovalia, el congreso volvió a consolidarse como punto de encuentro de referencia para la comunidad metrológica, combinando rigor técnico con una visión práctica orientada a la industria.
Bajo el lema ‘Shaping the Future’, Metromeet 2025 puso el foco en cómo la inteligencia artificial, los gemelos digitales y la digitalización del proceso metrológico están transformando los procesos industriales, haciendo posible una fabricación más eficiente, trazable y sostenible.
Un encuentro que unió ciencia, industria y personas
Antes del inicio oficial, los ponentes y miembros del comité disfrutaron de una visita guiada al Museo Guggenheim Bilbao, una actividad que sirvió como preludio perfecto al congreso y que permitió crear un ambiente de intercambio y conexión entre profesionales procedentes de toda Europa y América.
Durante los días 16 y 17 de octubre, Metromeet ofreció un programa estructurado en tutoriales, conferencias, ponencias técnicas y mesas redondas, con la participación de expertos procedentes de Siemens, el Centro de Precisión de Charlotte, la Universidad de Oslo, Innovalia Metrology y otras instituciones líderes en el ámbito de la medición y la calidad industrial.
Día 1: de la IA aplicada a la fabricación, a la documentación de calidad digital
La jornada inaugural fue presentada por Katia Lavin (Asociación Innovalia), quien dio la bienvenida a los asistentes y destacó la importancia de seguir impulsando la colaboración entre empresas, universidades y centros tecnológicos para afrontar los retos de la digitalización industrial.
El primer tutorial, a cargo de Toni Ventura-Traveset (Datapixel), exploró el papel de la Inteligencia Artificial en la fabricación moderna. Subrayó el cambio de paradigma que vive la calidad industrial, donde la IA no solo apoya la inspección, sino que redefine la función del operador.
El primer bloque de ponencias, dedicado a ‘Metrología para materiales y sostenibilidad’, incluyó la presentación de José A. Yagüe (Universidad de Zaragoza), centrada en el uso de tomografía computarizada (XCT) para la evaluación de piezas fabricadas mediante impresión 3D. Su trabajo demostró cómo la trazabilidad y la incertidumbre pueden gestionarse de manera integral incluso en geometrías complejas.
Por su parte, Dimitris Kyritsis (Universidad de Oslo) presentó el ‘Information Modelling Framework’ (IMF), un modelo que permite convertir la información industrial en grafos de conocimiento interoperables, facilitando la creación de gemelos digitales robustos y conectados a lo largo del ciclo de vida del producto.
Uno de los momentos más esperados fue la conferencia magistral de Thomas Engel (Siemens), titulada ‘The Digital Transformation of Metrology’. Abordó el concepto de la importancia de la trazabilidad en la compartición de datos metrológicos, mostrando cómo los certificados digitales y los estándares de interoperabilidad, como el Asset Administration Shell (AAS), están redefiniendo la trazabilidad y el intercambio de información entre proveedores, fabricantes y laboratorios.
La tarde continuó con el track sobre inteligencia artificial y verificación, donde Lalit Harode expuso los desafíos regulatorios asociados a la introducción de IA en la verificación legal metrológica, mientras que Ainhoa Etxabarri (Innovalia Metrology) presentó un enfoque práctico para integrar la medición directamente en el proceso de producción, reduciendo tiempos de control y aumentando la fiabilidad de las decisiones.
El día concluyó con la tradicional cena de gala en la Sociedad Bilbaína, donde asistentes, ponentes y patrocinadores compartieron una velada de networking en un ambiente distendido y cordial.
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