Metromeet 2015, la 11ª Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, se celebrará los días 17 y 18 de marzo. Poco a poco, se van detallando los contenidos de las ponencias, entre las que se encuentran las siguientes:
- “Interferometría de alta precisión para control de calidad en la fabricación basada en láser de metales y plásticos”: La fabricación basada en láser proporciona una herramienta flexible para el procesado de materiales, desde metales hasta plásticos, pero plantea un problema a la hora de monitorizar el proceso de control de calidad en línea, lo que limita su uso. La interferometría ofrece un gran potencial a la hora de solucionar este problema, ya que los sistemas de medición basados en este principio permiten inspeccionar en línea tanto micro como macro estructuras, así como el interior de las piezas. Guilherme Mallmann, de IPT Fraunhofer, pondrá ejemplos de inspección en línea con láser micromecanizado y contará cuáles son las grandes ventajas de la medición por interferometría.
- Tutorial “Cómo medir sin contacto - Introducción al digitalizado óptico”: Durante este tutorial, impartido por Ainhoa Etxebarri, los asistentes conocerán la tecnología de escaneo 3D mediante sensores ópticos y las técnicas de digitalizado. A lo largo de dos horas, obtendrán los conocimientos imprescindibles para iniciarse en el área de las nuevas tecnologías de control de calidad y gestión metrológica avanzada.
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