Bilbao acogerá el 17 y 18 de marzo Metromeet 2015, la 11ª Conferencia Internacional de Metrología Industrial Dimensional. Son muchas las ponencias de interés que habrá durante las dos jornadas, como por ejemplo las siguientes:
- Medición rápida de piezas forjadas con láser por triangulación: Los asistentes podrán descubrir las ventajas de medir las piezas forjadas en la línea de producción con Alexander Schöch, que explicará cómo este proceso permitirá detectar antes los errores y reajustar la producción, y así reducir tiempo y costes. Durante la presentación, se abordará el desarrollo de un innovador sistema de medición capaz de medir piezas de forja a temperatura elevada (800º C), y se expondrán los resultados de las mediciones preliminares llevadas a cabo.
- Datos metrológicos: retos y limitaciones en la industria de los semiconductores: La complejidad de monitorización y el enorme volumen de datos asociados con el control estadístico de procesos en la fabricación de semiconductores implican procedimientos metrológicos específicos de gestión de control de datos. Philippe Maillot explicará los desafíos, obstáculos y limitaciones a los que se enfrenta la industria de los semiconductores en el tratamiento y gestión de datos metrológicos.
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