Metromeet, Conferencia Internacional sobre Metrología Industrial Dimensional, se celebrará en Bilbao el 17 y 18 de marzo. Mientras tanto, se siguen avanzando algunos de los contenidos de su programa.
Estas serán dos de las ponencias:
- “Nubes de puntos: gestión y procesamiento a gran escala”: Martin Kodde presentará sistemas avanzados de bases de datos para almacenar y consultar las nubes de puntos de información masiva y pondrá ejemplos de nubes de más de 23.000 millones de puntos. También destacará que el valor de una nube de puntos reside en proporcionar las métricas correctas al usuario final, por lo que el reto está en calcular cuál es la información verdaderamente relevante y, si se puede, sobre la marcha.
- “Medición deflectométrica basada en modelos”: Permite descubrir los retos que plantea la adaptación de la medición deflectométrica de elementos reflectantes Jan Nitsche, del Iprom, explicará los problemas de los elementos reflectantes durante el proceso de producción y cómo con técnicas estándar es necesario medirlos separadamente. Con la deflectometría basada en modelos, las geometrías de cada elemento se pueden determinar con una simple medición.
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