Los sistemas de medición basados en visión artificial, especialmente la fotogrametría industrial, han ganado relevancia en los últimos años como una alternativa prometedora a los métodos de medición convencionales. Estos avances, impulsados por el desarrollo de algoritmos avanzados e inteligencia artificial, han permitido alcanzar niveles de precisión comparables a los sistemas tradicionales. Sin embargo, la adopción de estas tecnologías enfrenta el desafío de reemplazar sistemas ya establecidos en las líneas de producción, que cuentan con normativas y procedimientos consolidados.
A pesar de estos retos, los sistemas de visión artificial están facilitando la creación de soluciones de medición automatizadas, capaces de optimizar su rendimiento y mejorar la eficiencia de los procesos de inspección en tiempo real. Con este enfoque, la metrología avanza hacia una nueva era de medición inteligente, más autónoma y eficiente.
Estos son los puntos principales de la ponencia de Ibai Leicea de IDEKO en las jornadas del 50 Aniversario de IMHE.
