La cita anual en metrología dimensional industrial celebró su 20º aniversario del 10 al 12 de abril en el Palacio Euskalduna de Bilbao y en las bodegas de Eguren Ugarte. Metromeet, la conferencia organizada por la Asociación Innovalia, reunió a destacados expertos internacionales que hablaron sobre tendencias, nuevos proyectos y aplicaciones de la metrología en distintos sectores y novedades en tecnologías de medición.
El lema de este año fue “Discover. Connect. Meet”: ‘Descubrir’ las implicaciones de la metrología dimensional industrial; ‘Conectar’ con otros ponentes, asistentes y empresas para futuras colaboraciones, y ‘Reunir’ a trabajadores del sector y expertos de multinacionales y entidades destacadas, para los que Metromeet crea la oportunidad de conocerse en persona.
Intervenciones destacadas, tutoriales y keynotes
Metromeet reunió un año más a expertos tanto nacionales como internacionales. Toni Ventura (Datapixel) fue el encargado de inaugurar la conferencia, con una charla sobre la automatización de la metrología, una gran oportunidad para la fabricación ágil y en la que destacó que “estamos al comienzo de una era de transformación e innovación en la fabricación y automatización inteligentes”.
Stephen Kyle (University College London) presentó una plataforma on-line para promover y desarrollar la medición 3D y la metrología 3D (3DM), un repositorio en el que se incluyen recursos de fabricantes de sistemas, proveedores y fuentes de investigación.
José Antonio Yagüe (Universidad de Zaragoza) hizo un repaso de sus intervenciones en Metromeet a lo largo de los años y ofreció un tutorial sobre la verificación de máquinas-herramienta, explorando la necesidad de asegurar un rendimiento adecuado y preciso de las grandes máquinas que se usan para fabricar grandes piezas para sectores en los que cualquier mínimo fallo puede ser crítico en términos de seguridad.
Edward Morse (University of North Carolina at Charlotte) centró su presentación en la norma internacional ISO 10360-13, su adopción y uso en los sistemas de medición de coordenadas (CMS), calculando que “dentro de 5 años, todos los sistemas tendrían este estándar aplicado”.
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