Los avances en la fabricación de semiconductores están provocando un aumento exponencial en la complejidad de los dispositivos. Los fabricantes actuales deben confiar en una monitorización eficiente del proceso, pero los métodos de medición convencionales por sí solos ya no pueden garantizar los estándares de calidad requeridos. Esta es la razón por la que la medición de la fuerza se está convirtiendo en un factor crítico en los procesos de producción tanto de front-end como de back-end.
La tecnología de medición piezoeléctrica de Kistler garantiza la monitorización y el control de alta resolución de las fuerzas aplicadas durante los procesos de fabricación de semiconductores, por pequeñas que sean. Es posible que la metrología convencional no pueda acceder a la fuerza, en su condición de cantidad física que puede provocar un error en el dispositivo, pero la medición de fuerza basada en piezo “hace que lo invisible sea visible”.
Beneficios
La visibilidad del proceso basada en la tecnología de medición de fuerza dinámica ofrece beneficios impresionantes para la industria de fabricación de semiconductores:
- Detección temprana de desviaciones del estrés mecánico.
- Precisión de fuerza descendente con control de bucle completo.
- Trazabilidad de productos y optimización de procesos.
- Rendimiento mejorado de la máquina.
- Costes de calidad reducidos.
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