Renishaw introduce el software Particle Analysis (análisis de partículas) para su nuevo microscopio Raman confocal inVia™. El módulo analiza el microscopio inVia para identificar las partículas de las imágenes y, a continuación, analiza su composición química en el espectroscopio Raman.
El sistema Raman inVia de Renishaw es un microscopio de alta calidad idóneo para producir imágenes ópticas de partículas de la superficie. Las imágenes se cargan para las mediciones en el espectroscopio Raman, que genera rápidamente la información espacial de alta resolución de su composición química.
El módulo de software detecta varias partículas para el análisis Raman y genera los informes de resultados en un formato que se puede consultar fácilmente. Proporciona información de la composición química de cada partícula y su estadística morfológica. Permite detectar fácilmente la correlación entre el tamaño, la forma y la composición química la partícula.
El nuevo módulo también funciona con el módulo Correlate™ de Renishaw, por lo que es posible analizar imágenes de otros sistemas en el microscopio inVia Raman.
Aplicaciones
El módulo Particle Analysis analiza rápida y exhaustivamente varias partículas, que pueden utilizarse en muchas aplicaciones. David Reece, director comercial de la División de Productos para Espectroscopia de Renishaw, afirma que “la espectroscopia Raman se utiliza, cada vez más, para detectar la contaminación, y análisis forenses, productos farmacéuticos y microplásticos. Este nuevo módulo habilita la investigación completa con informes morfológicos y las propiedades químicas de las partículas. Esto facilita el conocimiento profundo de las partículas, sus propiedades y su origen”.
El software Particle Analysis es un módulo opcional del software WiRE™ 5.4 de Renishaw para el microscopio Raman confocal inVia.
Renishaw Ibérica, S.A.U.
Tel.: 93 663 34 20 www.renishaw.es/particleanalysis
